電池芯絕緣測(cè)試器
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產(chǎn)品名稱: 電池芯絕緣測(cè)試器
產(chǎn)品型號(hào): 11210
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
測(cè)試電壓：*高1KV (dc)
充電電流：*大50mA
寬范圍的漏電流量測(cè)(1pA ~ 20mA)
針對(duì)鋰電池潛在的內(nèi)部短路問題，執(zhí)行局部放電(Partial Discharge)/電氣閃絡(luò)(Flashover)之偵測(cè)(選購項(xiàng)目 A112100)：
局部放電強(qiáng)度及次數(shù)的偵測(cè)與顯示
在電壓/電流波形上，對(duì)局部放電做監(jiān)控
可設(shè)定局部放電之強(qiáng)度作為測(cè)試通關(guān)之條件
可實(shí)時(shí)顯示和儲(chǔ)存發(fā)生局部放電時(shí)的電壓/電流波形 (選購項(xiàng)目 A112101)
內(nèi)建+瞬時(shí)高壓測(cè)試 (+Flash Test)功能
內(nèi)建快速的接觸檢查功能
依順序自動(dòng)執(zhí)行測(cè)試程序：充電→保持→測(cè)量→放電
快速量測(cè) (20ms)
全彩顯示的觸控式螢?zāi)?
標(biāo)準(zhǔn)Handler 介面以及USB、RS-232、Ethernet 等通訊介面
電池芯絕緣測(cè)試器
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
應(yīng)用領(lǐng)域
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專門針對(duì)鋰電池干電芯之絕緣測(cè)試
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各式各樣電容產(chǎn)品(固態(tài)電容、積層陶瓷電容MLCC、高壓電解電容HV-ELCAP、塑膠膜電容Film Cap)或特殊絕緣材料之絕緣測(cè)試
Chroma 11210電池芯絕緣測(cè)試器是專為鋰電池干電芯之漏電流(LC)或絕緣電阻(IR)異常檢出而量身打造的絕緣測(cè)試器，亦可量測(cè)固態(tài)電容、積層陶瓷電容(MLCC)、高壓電解電容與絕緣材料。不僅具備標(biāo)準(zhǔn)的LC/IR量測(cè)外，更設(shè)計(jì)「于高壓量測(cè)過程中，可針對(duì)絕緣體內(nèi)強(qiáng)烈的局部放電(Partial Discharge, PD)或電氣閃絡(luò)(Flashover)進(jìn)行偵測(cè)與分析(以下簡(jiǎn)稱"PD偵測(cè)功能")」，此功能可協(xié)助檢測(cè)出鋰離子電池干電芯在電解液填充前的有效絕緣距離是否足夠，避免潛在**品進(jìn)入下一生產(chǎn)階段或流入終端市場(chǎng)。相對(duì)于傳統(tǒng)的絕緣測(cè)試，11210提升了鋰離子電池驅(qū)動(dòng)之電子電氣產(chǎn)品和電動(dòng)車的**性及絕緣材料品質(zhì)檢測(cè)領(lǐng)域到新的境界。
Chroma 11210使用特殊電路設(shè)計(jì)提供PD偵測(cè)功能，全程監(jiān)測(cè)測(cè)試過程中電芯內(nèi)是否曾經(jīng)發(fā)生過因局部異常放電而產(chǎn)生的異常電氣閃絡(luò)并量化為可視程度并同時(shí)記錄波形。在達(dá)到測(cè)試電位后，測(cè)試時(shí)間內(nèi)也會(huì)與一般耐壓或絕緣測(cè)試器一樣進(jìn)行漏電流或絕緣電阻值測(cè)量判定異常。+瞬時(shí)高壓測(cè)試(+Flash)功能提供兩階段間斷式高低電壓，分別檢測(cè)待測(cè)物在高壓時(shí)耐壓特性以及低壓下漏電流表現(xiàn)，獨(dú)立的判定漏電流大小以及PD檢出功能，可以有效作用于各種儲(chǔ)能元件。
Chroma 11210的高水平充電電流和快速的量測(cè)電路，將整體測(cè)試速度大幅提升，對(duì)一般電容性待測(cè)物做的絕緣測(cè)試，均可細(xì)分為四個(gè)程序：充電→判定延遲→測(cè)量→放電，且*快能在20ms內(nèi)自動(dòng)的依序執(zhí)行一個(gè)完整的測(cè)試，明顯提升生產(chǎn)線的效率。在漏電流量測(cè)上，從*小1pA至*大20mA細(xì)分為7個(gè)檔位以達(dá)到精準(zhǔn)的LC/IR量測(cè)。此外，Auto-range功能可自動(dòng)切換至*佳檔位執(zhí)行量測(cè)，省卻使用者的時(shí)間并確保量測(cè)之精準(zhǔn)度。
接觸檢查對(duì)于絕緣測(cè)試的可靠性有決定性之影響，在整個(gè)量測(cè)過程中，“沒有接觸”也很有可能被判定為良品，此誤判會(huì)使**品進(jìn)入市場(chǎng)，若待測(cè)物的絕緣電阻非常高，此誤判情形會(huì)更明顯；所以一般而言，絕緣測(cè)試的過程中必須進(jìn)行接觸檢查，Chroma 11210使用高階電路架構(gòu)，能在5ms內(nèi)執(zhí)行一次完整的接觸檢查，并可選擇量測(cè)前執(zhí)行、量測(cè)后執(zhí)行或量測(cè)前后皆執(zhí)行。
