SoC 測試系統(tǒng)
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產(chǎn)品名稱: SoC 測試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號: Model 3650-CX
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
應(yīng)用范圍
MCU/MCU + 嵌入式記憶體
NAND Flash Controller
PC I/O
Switch ICs
智慧型電源管理裝置
混合訊號、數(shù)位式、類比式 ICs
ADC/DAC/CODEC ICs
各類消費(fèi)性產(chǎn)品IC
適用工程研發(fā)、晶粒測試及 Final Test
電源 IC
LED 驅(qū)動 IC
SoC 測試系統(tǒng)
的詳細(xì)介紹
主要特色：
- 50/100MHz測試工作頻率
- 256個 I/O 通道(I/O Channel)
- 16/32 MW vector 記憶體
- 16/32 MW pattern instruction 記憶體
- Multi-site 測試可達(dá) 32 sites
- 16個 DPS 通道
- 8個 PMU 通道
- Per-Pin 時(shí)序頻率測試單位
- *高可選購1024M bit x 4 CH scan depth
- 可選購記憶體測試用ALPG
- 高達(dá) 16 high-voltage pins
- 16 個高性能 DPS 通道
- 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
- 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
- Windows® XP操作環(huán)境
- C++ 程式語言與圖形人機(jī)介面設(shè)計(jì)
- 采用CRISP完整多樣的系統(tǒng)軟體工具
- 與周邊設(shè)備相容性高
- All-in-One小型化氣冷式機(jī)臺設(shè)計(jì)，節(jié)省占地面積
- Cable Mount / Direct Mount
Chroma 3650-CX實(shí)現(xiàn)高性價(jià)比的IC測試系統(tǒng)
3650-CX采用All-In-One的小型化設(shè)計(jì)，除了擁 有相當(dāng)競爭性的機(jī)臺價(jià)格之外，并具備高準(zhǔn)確 性與高生產(chǎn)力。因此，能夠降低客戶的測試成 本與提升IC產(chǎn)品的利潤。3650-CX具備多樣化的 測試能力與強(qiáng)大的軟體工具，能夠用來測試包 含MCU，NAND flash controller, PC周邊相關(guān)的 IC，Switch，LED驅(qū)動IC，以及Power IC和SoC等 產(chǎn)品。
強(qiáng)大且功能完整的3650-CX系統(tǒng)軟體 - CRISP
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650-CX 的軟體測試環(huán)境CRISP ( Chroma Integrated Software Platform)，是一個結(jié)合工程 開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個部 份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯 模組以及測試機(jī)臺管理模組。透過親切的圖形 人機(jī)介面的設(shè)計(jì)，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除 錯工具，包含 :Datalog, Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor 與Plan Debugger、Histogram, STDF, Wafer Map等 軟體模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時(shí) 的需求與產(chǎn)線人員量產(chǎn)時(shí)的需求。
All-in-One小型化機(jī)臺設(shè)計(jì)節(jié)省占地面積
3650-CX將所有的測試儀器模組與機(jī)臺的電源系 統(tǒng)全部整合在單一個測試頭的空間里，并且采用 氣冷式的設(shè)計(jì)。透過如此高整合度的小型化設(shè) 計(jì)，可以大幅減少機(jī)臺的占地面積，以節(jié)省整體 的測試成本。
周邊設(shè)備
Chroma 3650-CX支援多種裝置的驅(qū)動程式介面 (TTL & GPIB) ， 可進(jìn)行與晶圓針測機(jī)和送料機(jī)， 包括SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。
